Нет обложки
Журнал: Информатика и системы управления
№ журнала: 1
Страницы: С. 115-120
УДК: 004
Тип издания: статья
Место издания: Россия
Год: 2010
Описание: Рассматривается информационно-измерительная система контроля индивидуальных свойств микроэлектронных устройств.